黃仁勛稱Blackwell芯片曾存在設計缺陷：靠臺積電力挽狂瀾！
體育資訊10月23日報道宣稱 英偉達 CEO 黃仁勛于當地時間周三在訪問丹麥時表示：該公司最新的 Blackwell 芯片曾存在設計缺陷，“Blackwell 芯片可以正常使用，但良率很低。”他還
2024-10-23
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